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缺陷管理
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基於YOLOv8之晶圓混合型缺陷模式識別方法研究__臺灣博碩士論文 ...
https://ndltd.ncl.edu.tw/cgi-bin/gs32/gsweb.cgi/login?o=dnclcdr&s=id=%22111NCKU5028064%22.&searchmode=basic
豁达的帽子
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缺陷管理
· 4 月前
英文. 論文頁數: 55. 論文摘要晶圓缺陷的準確檢測和分類在半導體製造中至關重要,它提供可解釋的數據以識別問題的根本原因,據以執行品質管理和良率之改善措施。晶圓缺陷;...
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