地质科学、矿物与采矿工程解决方案| Malvern Panalytical

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勘探是地质科学研究的核心。这项研究的重点是矿物和材料的勘测和探矿。地学也称为地球科学，专注于探索和研究地球及其材料的作用原理和演变过程。请查看下面的内容，了解我们的分析仪器如何为您提供支持！

勘探	方法	样品	应用说明标题（链接）
金属基体矿化 - 矿物分布	UV/Vis/NIR/ SWIR	美国西部大盆地的金属基体矿化（研讨论文，我们的 ASD 采矿工作的基础）	应用于矿床和地热系统勘探的反射光谱法
矾土 - 勘探	UV/Vis/NIR/ SWIR	矾土、三水铝石 Al(OH)3、勃姆石 γ-AlO(OH)，以及硬水铝石 α-AlO(OH) 与氧化铁针铁矿和赤铁矿，加上高岭土和少量二氧化钛	NIR 在矾土勘探和开采中的应用概述
绿泥石矿物 - 鉴定	UV/Vis/NIR/ SWIR	白色云母、绿泥石族矿物。（讨论 Halo 和 Halo 中的标量）	用于沉积物回收的自动反射光谱法 - SEG 2014 海报
钻芯和钻屑矿物学 - 矿物成分	UV/Vis/NIR/ SWIR	粘土矿物、硅酸盐、沸石、蛋白石、方解石和氧化铁（地热项目）	使用红外光谱法快速表征钻芯和钻屑中的矿物质
地质年代学 - 矿物成分	UV/Vis/NIR/ SWIR	纽芬兰西部阿瓦隆地区的 U/Pb 地质年代学研究	西部阿瓦隆地区晚新元古代低温热液蚀变和矿化：矿物学研究和新的 U/Pb 地质年代学结果摘要
测绘矿床 - 吸收特征	UV/Vis/NIR/ SWIR	纽芬兰和拉布拉多的矿床	可见/红外光谱法 (VIRS) 作为经济地质学研究工具：来自纽芬兰和拉布拉多的背景和试点研究
矿物测绘 - 地面实况	UV/Vis/NIR/ SWIR	铜矿石、油页岩和纸浆制造	700 公里外的遥感：挑战与潜力
矿物学 - 矿床	UV/Vis/NIR/ SWIR	矿床	揭示矿床中的矿物学信息：反射光谱法在南美洲矿产勘探中的应用
页硅酸盐矿物 - 成分	UV/Vis/NIR/ SWIR	主要的页硅酸盐矿物：沉积体系中的蒙脱石、伊利石、高岭土和绿泥石	用于沉积盆地表征的自动反射光谱法

尽管化石燃料是一种不断减少的资源，但通过勘测和探矿寻找和开采这些资源仍然是我们基础设施建设和研究的重要组成部分。请查看我们的能源和动力工程页面，了解更多有关用于燃料回收和减少污染物的石化分析法的信息。除此之外，请查看下面的应用说明，了解有关我们的化石燃料研究解决方案的更多信息！

化石燃料	方法	样品	应用说明标题（链接）
煤 - 元素组成	XRF	未灰化煤样品中的 Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P2O5、S、K2O、CaO、TiO2、MnO、Fe2O3、SrO 和 BaO	粉末压制未灰化煤样品中的主量和微量无机化合物分析
煤 - 矿物成分	XRD	石英 (SiO2)、高岭土 (Al2Si2O5(OH)4)、方解石 (CaCO3)、白云石 (CaMg(CO3)2、菱铁矿 (FeCO3) 和锐钛矿 (TiO2)	利用 XRD 分析煤及相关材料
煤 - 用于 ICP-OES 元素分析的样品制备	SPE	用作燃料的热能煤、用于炼钢的冶金煤（低硫、低磷）	使用硼酸盐熔融法和 ICP-OES 分析表征煤及其副产品
煤 - 用于 ICP-OES 元素分析的样品制备	SPE	煤、煤灰和粉煤灰	使用硼酸盐熔融法进行 ICP 分析以表征煤、煤灰和粉煤灰
原油 - 硫含量	XRF	原油中的硫	根据 ISO 8754 对原油的硫含量进行测定
钻井泥浆 - 颗粒粒度	LD	重晶石、泥浆	钻井泥浆及其成分的粒度分析
提高石油采收率 - 聚合物颗粒粒度	DLS	（表面活性剂和水凝胶聚合物）用于提高石油采收率 (EOR) 的聚丙烯酰胺粉末	优化用于提高石油采收率应用的嵌段共聚物的小容量 DLS 微观流变学测量
页岩 - 矿物鉴定	UV/Vis/NIR/ SWIR	粘土矿物学。 NIR、XRF、XRD 和 QEMSCAN 的简要比较。	NIR 光谱法在页岩矿物鉴定中的应用

所有材料都有自己的成分。矿物学研究的是我们使用的材料（从岩石和矿石到陨石）是如何组成和相互作用的。下面，我们汇总了一些矿物研究解决方案的应用例子。敬请查看，了解更多信息！

矿物学	方法	样品	应用说明标题（网站链接）
金属基体硫化物 - 元素浓度	XRF	硫化物中的 Cu、Zn、Pb、Ni、Co、Mo、Bi、Sb、Cd、Ag、Au、Se 和 Te	使用 XRF 和熔融法分析金属基体硫化物
氟石 - 纯度	XRF	CaF2 - 氟石	制备为熔融片的萤石（氟石、CaF2）的纯度检查
锰矿石 - 元素组成	XRF	锰矿石中的 Mn、Fe、Mg、Al、Si、P、S、Ca, 和 Ba	对制备为粉末压片的锰矿石样品进行分析
陨石 - 晶相定性分析	XRF	橄榄石、(Mg, Fe)2SiO4、贫钙辉石 CA) Si、Fe、Ca)Si2O6、富钙辉石（透辉石）、CaMgSi2O6、尖晶石、MgAl2O4、钙长石、CaAl2Si2O8 和方钠石 Na8(Al6Si6O24)Cl2	陨石的微 X 射线衍射分析
陨石 - 元素组成	XRF	陨石：Si、Fe、Ni、Cr、Mn、Mo、Al、P、S、Cl、Na、Mg、K、Ca、Ti、Zn 和 Zr	非洲西北部 2086 陨石的元素和物相分析
矿物 - 元素组成	XRF	矿物、Na2O2、MgO、Al2O3、SiO2、P2O5、K2O、CaO、TiO2、MnO、Fe2O3、痕量元素 Rb、Sr、Y、Zr 和 Nb	对制备为熔融片的地质材料中的主量元素和选定痕量元素进行分析
矿物 - 元素组成	XRF	一般地质材料中的元素	对制备为熔融片的地质材料中的主量元素和选定痕量元素进行分析
矿物 - 元素组成	XRF	矿床、大范围氧化物、SiO2、TiO2、Al2O3、Fe2O3、Mn3O4、MgO、CaO、Na2O、K2O、P2O5 和 SO3	Zetium - 使用 WROXI 大范围氧化物应用程序分析铁矿石
矿物 - 元素组成	XRF	矿床、大范围氧化物、SiO2、TiO2、Al2O3、Fe2O3、Mn3O4、MgO、CaO、Na2O、K2O、P2O5 和 SO3	Zetium - 按照 WROXI 标准分析矿物
矿物 - 元素组成	XRF	矿床、大范围氧化物、SiO2、TiO2、Al2O3、Fe2O3、Mn3O4、MgO、CaO、Na2O、K2O、P2O5、SO3	WROXI - 用于熔融片主量和微量元素分析的合成大范围氧化物标准
矿物 - 水化行为	XRD	蒙脱石、蛭石状粘土和一些含水云母	采用具有受控温度和相对湿度的透射几何方法的 XRD
矿物 - 痕量元素	XRF	矿物中的痕量元素	Zetium - 使用 Zetium 和 Pro-Trace 对地质材料进行痕量元素分析
橄榄石 - 物相定性分析、晶体结构精修	XRD	橄榄石、辉石、多铁性材料和 LiCrGe ₂ O ₆	辉石 LiCrGe ₂ O ₆ 晶体结构的研究
岩石和土壤 - 元素组成	XRF	岩石和土壤中的 Cd、Sn、Sb、Cs、Ba、La、Le 和 Nd	分析岩石和土壤中的 Cd、Sn、Sb、Cs、Ba、La、Le 和 Nd - 使用 K 线提高检测限
Sn-W-Pb 矿石 - 矿物成分	XRD	Sn-W-Nb 矿石	Sn-W-Nb 矿石的矿物学分析
硫化物矿床 - 矿物变化	UV/Vis/NIR/ SWIR	纽芬兰中部 Tulks 火山带的硫化物矿床。如何在勘探项目中使用 NIR 的良好例子。	利用可见/红外光谱法 (VIRS) 分析纽芬兰中部 Tulks 火山带火山生成的大量硫化物热液蚀变产物：又一种勘探技术？

随着技术不断进步和创造出令人振奋的新可能性，矿物加工的自动化水平日益提高。在马尔文帕纳科，我们始终致力于开发新的工具和设备来处理泥浆、颗粒和砂。请查看以下内容，深入了解这些工具如何支持新矿物加工研究！

矿物加工	方法	样品	应用说明标题（链接）
铝硅酸盐 - XRF 样品制备	SPE	砂和铝硅酸盐	使用硼酸盐熔融法进行 XRF 分析以测定砂和铝硅酸盐的成分
碳酸钙 - 颗粒粒度	LD	碳酸钙	使用在线粒度分析法提高沉淀碳酸钙生产效率
石膏 - 颗粒粒度和形状	MDRS	石膏浆料	使用 Morphologi 自动图像分析系统分析石膏浆料
重金属砂 - 矿物成分	XRD	重金属砂（钛、锆、钍）	分析重矿物砂以进行工业工艺控制
石灰石 - 元素组成	XRF	石灰石：CaO、Al2O3、SiO2、MgO 和 Fe2O3，以及痕量 Sr、K、Mn、P、S、Ti 和 Pb	石灰石中主量和痕量化合物的快速定量分析
石灰石 - 元素组成	XRF	石灰石/白云石	矿物混合物的指纹识别
石灰石 - 元素浓度	XRF	石灰石、Al2O3、SiO2、MgO、Fe2O3，以及痕量 MnO、P2O5 和 Pb	对制备为粉末压片的石灰石进行分析
石灰石 - XRF 样品制备	SPE	石灰石、石灰和石灰石中的金属	使用硼酸盐熔融法进行 ICP-OES 分析以测定石灰和石灰石中的金属

作为我们的主要产业之一，金属和燃料的开采和提炼是我们的核心业务。这一领域的研究和创新侧重于寻找新方法，以提高开采和精炼等工艺的效率。我们汇总了一些例子，介绍了如何将我们的分析仪器纳入您的采矿工程解决方案。请查看下面的内容，了解更多信息！

采矿	方法	样品	应用说明标题（链接）
Ag 和 Au 矿石加工 - 元素浓度	XRF	活性炭上的 Ag 和 Au（来自贵金属矿石加工中的纸浆和浸出工艺）	分析活性炭上的 Au 和 Ag
矿石中的银 - 元素浓度	XRF	矿石中的银	分析矿石中的 Ag
金属基体硫化物 - 元素浓度	XRF	硫化矿中的 Cu、Zn、Pb、Ni、Co、Mo、Bi、Sb、Cd、Ag、Au、Se 和 Te	使用 XRF 和熔融法分析金属基体硫化物
矾土 - 元素组成	XRF	Al2O3、Fe2O3 和 TiO2 中的 Ni、Zn、Ca、Cr、Mn、Fe、Co、Mg、Al、Si	对制备为熔融片的矾土样品中的主量和微量元素进行分析
矾土 - 元素组成	XRF	矾土	Zetium - 使用 WROXI 大范围氧化物应用程序分析矾土
矾土 - 元素组成	XRF	矾土（水合氧化铝、Al2O3、Fe2O3、Si、Fe、Ti + 痕量金属氧化物）	Zetium - 对制备为熔融片的矾土中的主量和微量元素进行定量分析
矾土 - 等级控制	XRD	赤铁矿、针铁矿和磁铁矿，以及脉石矿物三水铝石 Al(OH)3、高岭土 Al2Si2O5(OH)4 和石英 SiO2	使用 X 射线衍射法 (XRD) 对矾土进行等级控制
矾土 - XRF 样品制备	SPE	矾土（水合氧化铝、Al2O3、Fe2O3 + 痕量金属氧化物）	使用矾土型样品在 TheOx® Advanced 仪器上进行分析，随后再进行 XRF 分析，以进行位置间重复性研究
矾土/铁矿石 - 矿物成分	XRD	铁矿石、矾土	用于采矿业的 X 射线衍射应用
铬矿石 - ICP-OES 样品制备	SPE	氧化铬 (Cr2O3)，其中 Mg2+、Fe2+、Cr3+、Al3+ 和 Fe3+ 的比例可能不同	使用过氧化物熔融法轻松实现溶解，以用于铬铁矿、铬铁和铬矿渣的 ICP-OES 分析
铜矿开采 - 凝聚优化	UV/Vis/NIR/ SWIR	铜、酸和水	利用铜矿开采中的凝聚优化实现可能的成本节约
铜矿石 - 矿物学分析	UV/Vis/NIR/ SWIR	铜矿石（用于定量矿物学分析的大型数据集的良好模型结果）	对铜矿石进行快速矿物分析
铜矿石 - 矿物成分	XRD	铜矿石中的 23 种矿物，包括黄铜矿 CuFeS2、赤铜矿 Cu2O、紫铜矿 CuO，以及水胆矾 Cu4[(OH)6(SO4)] 和锌铜矾 Ca(Cu, Zn)4(SO4)2(OH)6•3H2O 等硫酸盐	对铜矿石进行矿物分析
铁矿石 - 元素组成	XRF	铁矿石中的 Na、Mg、Al、Si、P、S、K、Ca、Ti、Cr、V、Mn、Fe、Ni、Cu 和 Zn 矿石	对制备为熔融片的铁样品进行分析
铁矿石 - 元素组成	XRF	Fe2O3 含有 Na、Mg、Al、Si、P、S、K、Ca、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Cu、Zn 和 As	利用 Zetium 和 SumXcore 技术更快地分析铁矿石
铁矿石 - 分级相关一般文章（并非专门针对我们的产品）	UV/Vis/NIR/ SWIR	来自印度贾坎德邦 Noamnudi 矿山的铁矿石样品（赤铁矿、磁铁矿、褐铁矿和菱铁矿）	利用高光谱辐射测量法估计印度 Noamnudi 铁矿石的等级 - 一项初步研究
铁矿石 - 矿物成分	XRD	铁矿石	铁矿石矿物学分析
铁矿石 - 矿物成分	XRD	铁矿石、针铁矿、赤铁矿、三水铝石-高岭土-石英	用于铁矿石等级控制的 XRD
铁矿石 - 氧化物含量和碱度	XRD	FeO 含量和碱度	通过 X 射线衍射法分析铁烧结矿可减少二氧化碳排放量
铁矿石 - 用于元素分析的样品制备	SPE	使用 NaT 助熔剂熔化铁矿石	使用四硼酸钠 (NaT) 助熔剂通过熔融法制备铁矿石以用于 XRF 分析
铁矿石 - 用于元素分析的样品制备	SPE	铁矿石，使用硼酸盐熔融法制备的熔融片	用于铁矿石（包括勘探样品）分析的 ISO 9516-1 简化硼酸盐熔融法和 WDXRF 分析方法
镍矿石 - 元素组成	XRF	镍矿石中的 Ni、Co、Mg、Fe、Mn、Zn、Al、Cr、Ca 和 Si	对制备为熔融片的镍矿石样品进行分析
磷酸盐 - 元素和矿物组成	XRD	开采磷酸盐 - Yara 在芬兰的矿山	为 Yara 量身定制的解决方案 - 客户案例
磷酸盐 - 元素组成	XRF	高磷酸盐矿物、磷酸生产 - 包括 Fe2O3、Al2O3 和 SiO2	Zetium - 使用 WROXI 大范围氧化物应用程序分析磷酸盐
岩石表面 - 矿物库	UV/Vis/NIR/ SWIR	模型矿面（岩石表面）	关于用于自主采矿系统的高光谱库的开发

我們的產品與技術在產品頁面提供相關說明。您可在下方找到我們儀器量測屬性的快速參考連結，以及量測名稱及其縮寫。進入以下連結來深入瞭解！

英文縮寫	方法名稱	儀器	測量的特性
DLS (DLS)	動態光散射技術 (DLS)	Zetasizer	分子大小、流體力學半徑 R _H 、粒子大小、大小分佈、穩定性、濃度、凝聚度
ELS	電泳光散射技術	Zetasizer	Zeta 界面電位、粒子電荷、懸浮穩定性、蛋白質活動力
ITC	等溫滴定熱分析法	MicroCal ITC	結合親和力、溶液分子反應熱力學
DSC	差示掃描量熱法	Microcal DSC	大分子變性 (重新摺疊)、大分子穩定性
GCI	光柵耦合干涉法 (GCI)	Creoptix WAVEsystem	使用無標記法進行即時結合動力學與結合親和力分析
IMG	自動影像分析	Morphologi 4	粒子成像、自動形狀與大小量測
MDRS	形貌導向拉曼光譜技術	Morphologi 4-ID	粒子成像、自動形狀與大小量測、化學識別與污染物偵測
LD	雷射繞射	Mastersizer Spraytec Insitec Parsum	適用分析的材料
NTA：	奈米粒子追蹤分析	NanoSight	粒子大小、大小分佈及濃度
SEC 或 GPC	尺寸篩選層析法 (SEC) 凝膠滲透層析法	OMNISEC	分子大小、分子量、減數狀態、聚合物或蛋白質大小及分子結構
SPE	經由熔融法進行樣本製備	Le Neo LeDoser Eagon 2 The OxAdvanced M4 rFusion	適合 XRF 熔融樣本製備、適合 ICP 過氧化物溶液製備、適合熔融樣品通率加權
UV/Vis/NIR/ SWIR	紫外光 / 可見光 / 近紅外線 / 短波紅外線光譜儀	LabSpec FieldSpec TerraSpec QualitySpec	材料識別與分析、濕度、礦物質、碳含量。空中及衛星光譜技術的地面實況。
PFTNA	脈衝快速熱中子活化	CNA	即時元素分析
XRD-C	X 光繞射 (晶體學)	Aeris Empyrean	分子結晶結構精算、結晶相識別與定量、結晶與非結晶比例、結晶體尺寸分析
XRD-M	X 光繞射 (微結構)	Empyrean X’Pert ³ MRD(XL)	殘餘應力、織構 (Texture)
XRD-CT	由斷層掃描所產生的 X 光吸收成像	Empyrean	固體、孔隙和密度 3D 成像
SAXS	小角度 X 光散射 SAXS	Empyrean	奈米顆粒、尺寸、形狀與結構
GISAXS	低掠角小角度 X 光散射	Empyrean	奈米結構薄膜與表面
HR-XRD	高解析度 X 光繞射	Empyrean X’Pert ³ MRD(XL)	薄膜與多磊晶層、組成、應力、厚度、品質
XRR	X 光反射法	Empyrean X’Pert ³ MRD(XL)	薄膜與表面、薄膜厚度、表面與介面平整度
XRF	X 光螢光光譜儀 (XRF)	Epsilon Zetium Axios FAST 2830 ZT	元素成分、元素濃度、微量元素、污染物偵測

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