（1）儀器名稱：X射線光電子能譜儀(XPS)
（2）英文名稱：X-ray photoelectron spectroscopy
（3）功能：物質表面的定性及定量化學分析，量測Valance band和功函數，量測電子親和力
（4）收費：
學界:預抽真空＄200/hr;基本費＄1000/hr;Ar離子鎗＄50/min;UPS $100/hr;LEIPS $100/hr
業界:預抽真空＄1,500/hr;基本費＄3,000/hr;Ar離子鎗＄100/min;UPS $1,000/hr;LEIPS $1,000/hr
國科會計畫預約收費：基本費＄1550/3hr（含預抽真空），Ar離子鎗＄50/min;UPS $100/hr;LEIPS $100/hr
圓檔處理費（元素含量及半高寬）100元／張
3.粉體樣品須事先壓錠。
＊若粉體樣品未壓錠好，將不予以測量；或是測試期間，因樣品損壞儀器，均由申請人負擔賠償責任。
4.樣品須自行前處理（烘乾、除水），以便實驗過程中真空度降至1x10-7。
5.進行微區分析時，申請人須親自到場指定受測區。
6.樣品預約時請先下載X射線光雷子能譜儀(XPS）服務辦法和樣品預約單。
文件下載：
2.
X射線光電子能譜儀(XPS)服務辦法和樣品預約單.odt
.odt
3.
X射線光電子能譜儀(XPS)服務辦法和樣品預約單.pdf
.pdf
4.
X射線光電子能譜儀(XPS)特點.pdf
.pdf
5.
X射線光電子能譜儀(XPS)簡介.pdf
.pdf
（1）儀器名稱：高解析穿透式電子顯微鏡(HR-TEM)
（2）英文名稱：High Resolution Transmission Electron Microscope
（3）功能：試片表面及截面幾何外觀檢測、樣品晶格分析、選區繞射分析、元素鑑別及分佈分析、材質含金屬及無機物．
（4）收費：
1.學界每小時1,500元EDS:100元／時Mapping、 Linscan:200元／時CCD使用費100元／時銅網150元／個
2.業界每小時4,500元EDS:200元／時Mapping、 Linscan:400元／時CCD使用費200元／時銅網300元／個
3.國科會計畫預約收費:1,800元／時段（3小時）;EDS:100元／時，Mapping、 Linscan:200元／時
CCD使用費100元／時；銅網150元／個
3.如何申請
線上,紙本
4.注意事項
1.樣品需乾燥，若需特殊處理，需先自行製備。
2.試片在竜子束照射下會分解或釋放氣體．因有礙必要之真空維持，恕不受理。
3.本儀器拒絕受理含磁性、腐蝕性、高分子、揮發性、生物及不耐高溫之試件。
4.需自備空白光碟片儲存資料。
5.本儀器拒絕受理具強磁性或易被竜磁透鏡吸引的粉末型式樣品或材料，亦拒絕受理含有毒性、腐蝕性、揮發性、生 物性及低熔點之樣品。如未告知違規樣昷造成儀器損傷，會向使用者單位請求賠償。
文件下載：
1.
高解析穿透式電子顯微鏡(HR-TEM)簡介.pdf
.pdf
2.
高解析穿透式電子顯微鏡(TEM)特點.pdf
.pdf
（1）儀器名稱：場發射掃描式電子顯微鏡(FE-SEM)
（2）英文名稱：Field Emission Scanning Electron Microscope
（3）功能：試片表面及截面幾何形狀觀測、凹凸面陰影觀測、元素鑑別及分析、觀測區域選定、調整景深及清晰度、數位螢幕顯示、材質含金屬、非金屬及無機物檢測。
（4）收費：
學界：600元／時；Sputter Coater (Pt) : 50元／次
業界：每小時1500元；Sputter Coater (Pt) : 500元／次
國科會計畫預約收費： 600元／時段(3小時）；Sputter Coater (Pt) : 50元／次
3.如何申請
線上,紙本
4.注意事項
l. 樣品需乾燥，若需特殊處理，需先自行製備 。
2.試片在電子束照射下會分解或擇放氣體，因有礙必要之真空維持，恕不受理 。
3.本儀器拒絕受理含磁性、腐蝕性、揮發性及不耐高溫之試件。
4.樣品最好為導電及導熱體，大小最大不可超過長2cm、厚0.5cm 。
為避免造成損壞，本儀器拒絕受理具強磁性、磁性（如鐵、鈷、鎳等）或易被電磁透鏡吸引的粉末型式樣品或材料；
拒絕受理含有毒性、腐蝕性、揮發性、低熔點之樣品。
文件下載：
1.
場發射掃描式電子顯微鏡簡介.pdf
.pdf
（1）儀器名稱：原子力顯微鏡(AFM)
（2）英文名稱：Atomic Force Microscope
（3）功能：原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope)是利用奈米尺寸的探針在樣品表面做掃瞄，藉由原子之問的凡得瓦爾作用力產生接觸與排斥現象、再配合探針懸臂（cantilever )作為雷射光的反射介面，當探針因表面作用吸引排 斥而導致雷射的偏移量，記錄這些偏移數值即可呈現出樣品的表面形貌。近年來AFM開發很多的量測應用：如電性、磁性等，這些都必須搭配各式的探針與模組方能進行量測，根據其成像原理和操作模式的差異，以分析奈米材料表面形貌、表面粗糙度、尺度、電性、硬度、黏滯力等。涵蓋了聚合物材料表面結構、整合光路測量、材料力學性能特性、MEMS製程分析、細胞表面形態、結構觀察、資料儲存、液晶材料性能特性、生物感測器、分子自組裝結構、能源等領域的監測。
（4）收費：
► 學界 :1.表面形貌掃描 每小時1,500元
2.機械性質、電性與液相掃描 每小時1,750元
► 業界 :1.表面形貌掃描 每小時4,000元
2.機械性質｀電性與液相掃描 每小時5,000元
► 國科會計畫預約收費:
1.表面形貌掃描 每小時600元
2.機械性質｀電性與液相掃描：每小時700元(3小時為一個時段（次），不滿3小時以3小時計）
► 購買原廠一般探針: 1,500元
► 購買原廠力學探針 2100元
► 購買原廠霓性探針 2500元
► 購買原廠磁性探針 3600元
► 數擄處理費 每件100元
► 空白光碟片 10元
3.如何申請
線上,紙本
4.注意事項
1.若因試片處理不當造成機台損壞或污染，須負賠償責任，賠償費用由原廠評估。
2.預約者請在進行實驗當天，攜帶申請表格。
3.非特殊狀況下若欲取消預約，請於預約量測日的3個工作天前完成取消，否則需計基本使用費。
4.預約時段而無故不到者，將自動扣該時段之基本使用費。
5.若須探針掃描樣品可自備探針或向精密儀器中心技術員詢問，中心不負探針保管之責任。
6.實驗資料僅能以光碟片存取。
7.預約檢測時，請先填寫原子力顯微鏡(DlMENSlON lCON XR)使用預約紀錄表。
文件下載：
1.
原子力顯微鏡(AFM)簡介.pdf
.pdf
2.
原子力顯微鏡(DIMENSION ICON XR)使用紀錄表.odt
.odt
3.
原子力顯微鏡(DIMENSION ICON XR)使用紀錄表.pdf
.pdf
（1）儀器名稱：超高解析熱電子型場發射掃描式罨子顯微鏡(FE-SEM)
（2）英文名稱：Ultra High Resolution Thermal Field Emission Scanning Electron M1croscope
（3）功能：試片表面及截面幾何形狀觀測、凹凸面陰影觀測、元素鑑別及分析、觀測區域選定、調整景深及清晰度、數位螢幕顯示、材質含金屬、非金屬及無機物檢測．
（4）收費：
學界 每小時1,000元， EDS:100元／次， Sputter Coater(Pt):200元／次
業界 每小時2,500元， EDS:500元／次， Sputter Coater(Pt):700元／次
國科會計畫預約收賨 1200元／時段（3小時），EDS:100元／次，Sputter Coater(Pt):200元／次
3.如何申請
線上,紙本
4.注意事項
1.樣品如須脫水乾燥或需特殊處理,請自行事先處理．
2.樣品直徑小於5mm且高度低於5mm過大時 請洽技術員．
3.玻璃、矽晶片、ITO、FTO等 請事先自行裁切成上述大小 實驗室恕不允許現場裁切．
4.為避免對高真空造成污染 樣喆不得為含高分子、水、油、高揮發性、磁性、粉末及多孔性材料等且嚴禁生物類性質樣品．
文件下載：
1.
超高解析熱電子型場發射掃描式罨子頲微鏡簡介.pdf
.pdf
（1）儀器名稱：傅立葉轉換顯微紅外線光譜儀(FTIR)
（2）英文名稱：Fourier Transform Infrared Spectroscopy
（3）功能：微小樣品分析、微小污染物或包埋物分析、表面分析、多層膜分析等，具有快速靈敏測定的功能。
（4）收費：
FTIR
校內：200元／件
校外（學界） ： 400元／件
業界：1,000／件
ATR
校內：200元／件
校外（學界） ： 400元／件
業界 1,000／件
液體(PH值介於4-10之間）
校內：400元／件
校外（學界） ： 800元／件
業界 1,000／件
3.如何申請
4.注意事項
1.固體粉末約5-10mg
2.液體避免揮發性物質，試樣約5-10ml
文件下載：
1.
傅立葉轉換顯微紅外線光譜儀(FTIR)簡介.pdf
.pdf
（1）儀器名稱：調幅式示差掃描熱分析儀(MDSC)
（2）英文名稱：Modulated differential scanning calorimeter
（3）功能：DSC測量的是與材料內部熱轉變相關的溫度、熱流的關係 應用範固非常廣特別是材料的研發、性能檢測與質量控制。材料的特性．如玻璃化轉變溫度、冷結晶、相轉變、熔融、結晶、產品穩定性、固化／交聯、氧化誘導期等都是DSC的研究領域。
（4）收費：
校內：400元／時
校外（學界）: 600元／時
校外（業界）:1,000元／時
（1）儀器名稱：拉曼／光致螢光光譜儀(Raman/PL)
（2）英文名稱：Raman/Photoluminescene Spectrometer
（3）功能：量測分子振動光譜－無機結構辨識拉曼光譜是量測分子結構的振動光譜,可對物質進行定性分析。物質結構的微小變化會非常靈敏的反映在拉曼光譜中，因而可用來研究物質的物理化學等各方面性質隨結構的變化。光致螢光(Photoluminescene,PL) 的量測可以偵測晶體缺陷的大小，化學鍵狀態。
（4）收費：
(a) 校外收費
拉曼／光致螢光光譜儀(Raman/PL)
拉曼光譜分析＝每件1200元（每小時）， 每件以操作1小時計算，超過1小時以0.5小時為單位計算。 此不含判讀費用。
Raman/PL費用＝1200元（每小時） x 樣品數
(b)校內收費
校內使用以樣品數計價每個樣品250元（每件樣品分析時間以半小時為限，不限點數）。
若一件樣品分析時間超過半小時 ，則每半小時加算250元。
3.如何申請
紙本,電話詢問
文件下載：
1.
拉曼／光致螢光光譜儀(RamanPL)簡介.pdf
.pdf
（1）儀器名稱：拉曼光譜儀(Raman)
（2）英文名稱：Raman Spectrometer
（3）功能：使用固定波長的雷射光源激發樣品，當激發光與樣品分子作用時，如果光子與分子碰撞後發生了能量交換，光子將一部分能量傳遞給了樣品分子或從樣品分子獲得一部分能量，從而改變了光的頻率，這個變化就稱之為拉曼位移(Raman shift)。
（4）收費：
(a) 校外收費
拉曼／光致螢光光譜儀(Raman/PL)
拉曼光譜分析＝每件1200元（每小時）， 每件以操作1小時計算，超過1小時以0.5小時為單位計算。 此不含判讀費用。
Raman/PL費用＝1200元（每小時） x 樣品數
(b)校內收費
校內使用以樣品數計價每個樣品250元（每件樣品分析時間以半小時為限，不限點數）。
若一件樣品分析時間超過半小時 ，則每半小時加算250元。
3.如何申請
紙本,電話詢問
4.注意事項
1.因反射式．故樣品不可嚴重吸光
2.因反射式，故樣品為薄膜時，厚度請勿太薄
3.樣品不可具揮發性影響量測儀器濾光鏡
文件下載：
1.
拉曼光譜儀(Raman)簡介.pdf
.pdf
（1）儀器名稱：螢光光譜儀(PL)
（2）英文名稱：Spectrometer
（3）功能：樣品吸收特定波長的光能後，其能階從基態躍遷至激發態，但處於激發態的分子相對不穩定，很快便會降回至低能階，過程中會放出螢光，藉由樣品放出的螢光，獲得螢光訊號。量測樣品中激發及放光光譜掃描。樣品長時間螢光衰減測定。做於定量有極高的靈敏性。
（4）收費：
校內： 1,000元（每小時）
校外： 2,000元（每小時）
3.如何申請
4.注意事項
1.樣品不得具有毒性、磁性、揮發性
2.粉體樣品質量約需5g
3.四面透光石英槽請自行攜帶
文件下載：
單位信箱
